主题：是否可以使测试时间进一步降低而不改变测试精度？

     由于最近在做简易的电声测试仪器和相关软件，由于比较新手，有个问题提出来，希望熟悉的同仁能给予
指点。
    描述（1）：对于一款电声测试仪，假定测试范围为20-20kHz。采用的离散对数扫频模式（1/24）Oct，
则扫描频率的离散点为f=1kHz*2^[(-135:103)/24]。
    描述（2）：以采样率Fs采集了一段时间t内的信号，如果是采用FFT观察其频谱，那么它的频率分辨率
应为△f=1/t,最高频率为Fs/2(采样定律)。
    如果认为描述（2）无误，也就意味着对于频率为f的信号需采用至少2f的采样率和至少1/f的采样时间才
能反映其频谱。这样对于如上描述（1）的系统需要的测试总时间至少应为：1.7s。

    问题：是否可以使测试时间进一步降低而不改变测试精度？

我想我还是啰嗦了，不该提采样率的事。

扫频模式是离散对数扫频，而非连续对数扫频，为了能检测到原始信号的分量，每频段最小时长为1/f。

但实际在采用的是1/24倍频单频逐个扫描，也就是说FFT后的频率分辨率至少也是f*2^(1/24)-f=0.03f。

这意味着如果采用的是1/24倍频离散对数扫描20-20k，要想获得相应的较为准确的分析结果，所需的时间

应为1.7/0.03=56s.

同样对于1/12倍频离散对数扫描20-20kHz,时长为10s。如果是100-10kHz,时长为2s.